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高溫四探針測試儀開售
日期：2025-04-26 00:51
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摘要：
高溫四探針測試儀開售
高溫四探針測試儀采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析材料質(zhì)量的一種重要的工具。
生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量.
高溫四探針測試儀開售
高溫四探針測試儀采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析材料質(zhì)量的一種重要的工具。
生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量.
