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北京華測(cè)耐漏電起痕測(cè)試裝置
日期：2025-04-26 00:39
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摘要：
北京華測(cè)耐漏電起痕測(cè)試裝置
北京華測(cè)耐漏電起痕測(cè)試裝置是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
HCLD-200耐漏電起痕試驗(yàn)儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL)，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕...
北京華測(cè)耐漏電起痕測(cè)試裝置
北京華測(cè)耐漏電起痕測(cè)試裝置是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
HCLD-200耐漏電起痕試驗(yàn)儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL)，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
HCLD-200北京華測(cè)耐漏電起痕測(cè)試裝置適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。，也適用于電氣能力驗(yàn)證計(jì)劃與技術(shù)研討會(huì)中的有關(guān)CHEARI-PT003耐電痕化指數(shù)測(cè)試。
