Huace650T高低溫冷熱臺，由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有多種的測試功能，冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測試，采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。在某些，同時(shí)測試功能上也增加了電阻測試、TSDC等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量！
Huace650T高低溫冷熱臺也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -185℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫，同時(shí)允許進(jìn)行電學(xué)測試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)氣密腔，可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Ｗo(hù)氣體，來防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜，或高溫下氧化。也可搭配阻抗分析儀、高阻計(jì)、源表等進(jìn)行相關(guān)電參數(shù)測量。使用時(shí)還可對樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在很低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款溫控探針臺通過杠桿式支架（可根據(jù)用戶測量要求定制用電）。
溫控探針臺是一款溫度范圍-190℃-600℃的探針臺。使用時(shí)還可對樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針，而且點(diǎn)針力度大，和樣品的電接觸性較好。
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項(xiàng)目 |
類別 |
參數(shù) |
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溫控參數(shù) |
溫度范圍 |
負(fù)190℃-600℃（負(fù)溫需配液氮制冷系統(tǒng)） |
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傳感器/溫控方式 |
100Ω鉑RTD/PID控制（含LVDC降噪電源） |
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大加熱/制冷速度 |
+80℃/min(100℃時(shí))，-50℃/min（100℃時(shí)） |
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小加熱/制冷速度 |
±0.01℃/min |
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溫度穩(wěn)定性 |
±0.05℃（＞25℃），±0.1℃（＜25℃） |
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軟件功能 |
可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線 |
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電學(xué)參數(shù) |
探針 |
默認(rèn)為錸鎢材質(zhì)的彎針探針 可選其他種類探針 |
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探針座 |
杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性更好 |
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點(diǎn)針 |
手動點(diǎn)針，每個(gè)探針座都可點(diǎn)到樣品區(qū)上位置 |
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探針接口 |
默認(rèn)BNC接頭（可選三同軸）可增設(shè)腔內(nèi)接線柱（樣品接電引線） |
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臺面電位 |
默認(rèn)為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口 |
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結(jié)構(gòu)參數(shù) |
加熱區(qū)/樣品區(qū) |
28mm X 30mm |
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樣品腔高 |
6.3MM 樣品大厚度由探針決定 |
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放樣 |
打開上蓋后置入樣品再點(diǎn)針，關(guān)上蓋后無法移動探針 |
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氣氛控制 |
氣密腔，可充入保護(hù)氣體 *另有真空腔型號 |
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外殼冷卻 |
可通循環(huán)水，以維持外殼溫度在常溫附近 |
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臺體尺寸/重量 |
180mm X 130mm X26mm /1500g |
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配置列表 |
基本配置 |
溫控探針臺、mK200B溫控器、外殼循環(huán)水冷系統(tǒng) |
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可選配件 |
測試源表、真空系統(tǒng)（僅用于真空型號）、三同軸BNC接口、臺面電懸空、樣品接電引線 |
二、功能特點(diǎn)
* 可編程精密控溫?？煽刂?，也可從上位機(jī)軟件控制
* 探針需開蓋移動，樣品臺面電接地
* 探針，分別導(dǎo)通冷熱臺外殼上的4個(gè)BNC接口
* 杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度大，電接觸性較好
* 彎針探針，點(diǎn)針精準(zhǔn)
* 默認(rèn)氣密腔室，通問2個(gè)快速自鎖接頭，可充保護(hù)氣體
* 上蓋帶有樣品觀察窗
* 臺體內(nèi)置干燥氣體管道，用于負(fù)溫時(shí)對視窗的除霜
* 視窗可拆卸與更換，可用不同材質(zhì)窗片實(shí)現(xiàn)不同波段光觀察
* 軟件可拓展性強(qiáng)，可提供LabView等語言的SDK
三、可定制更多測試功能
* 介電溫譜測試
* 四探針電阻率測試
* 絕緣電阻測試
